Costa Miscione, Juan Manuel; Silva, Felipe Carneiro da 
; Marcondes, Michel Lacerda ; Petrilli, Helena Maria ; Schön, Cláudio Geraldo
Source: Materialia. Unidades: EP, IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TENSÃO RESIDUAL, ESTANHO
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ABNT
COSTA MISCIONE, Juan Manuel et al. Evaluating residual stresses in compositionally graded TiN films via ab initio and Rietveld simulation. Materialia, v. 28, p. 17 , 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2023.101715. Acesso em: 16 maio 2024.APA
Costa Miscione, J. M., Silva, F. C. da, Marcondes, M. L., Petrilli, H. M., & Schön, C. G. (2023). Evaluating residual stresses in compositionally graded TiN films via ab initio and Rietveld simulation. Materialia, 28, 17 . doi:10.1016/j.mtla.2023.101715NLM
Costa Miscione JM, Silva FC da, Marcondes ML, Petrilli HM, Schön CG. Evaluating residual stresses in compositionally graded TiN films via ab initio and Rietveld simulation [Internet]. Materialia. 2023 ; 28 17 .[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2023.101715Vancouver
Costa Miscione JM, Silva FC da, Marcondes ML, Petrilli HM, Schön CG. Evaluating residual stresses in compositionally graded TiN films via ab initio and Rietveld simulation [Internet]. Materialia. 2023 ; 28 17 .[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2023.101715
